邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學(xué)家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設(shè)計制造出來的精密光學(xué)儀器。它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實現(xiàn)干涉。通過調(diào)整該干涉儀，可以產(chǎn)生等厚干涉條紋，也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術(shù)中，如在光譜線精細結(jié)構(gòu)的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應(yīng)用。利用該儀器的原理，研制出多種專用干涉儀。

　　干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。

　　影響干涉儀測量精度的主要因素：

　　1. 頻率穩(wěn)定性：在干涉儀中，將波長作為長度基準，頻率變化直接影響測量結(jié)果。

　　2. 大氣折射率。

　　3. 死程誤差：在零位時，干涉儀兩相干光的還有一段光程差，這一段光程差稱為死程。死程的變化會引起測量誤差，死程誤差是干涉儀的一項重要誤差。

　　4. 余弦誤差：在測定三坐標測量機的定位誤差時，需仔細調(diào)整，使光束與滑座的運動方向平等。

　　5. 脈沖當量誤差：干涉儀顯示的最小一個數(shù)所對應(yīng)的量值稱為脈沖當量。

　　6. 細分誤差：在干涉條紋一個周期內(nèi)，由插細分不均勻引起的誤差。

　　7. 阿貝誤差：為避免阿貝誤差，需將角隅棱鏡的頂點調(diào)整到所測的直線上，否則由于滑座的角運動誤差引起阿貝誤差。